芯片恒溫恒濕測試箱0℃150L 恒溫恒濕試驗箱

芯片恒溫恒濕測試箱0℃150L可以把多個試驗條件編定成多個程序讓它們自主按人工設(shè)定的指令不停的循環(huán)試驗。

常用于航天太空、國防工業(yè)、自動車部品、塑化工業(yè)、光纖、精密電感、晶體、PCB、LED、LCD電子零組件、食品業(yè)、制藥工業(yè)、半導(dǎo)體電腦周邊組件及各相關(guān)產(chǎn)品之研發(fā)、品質(zhì)管理工程之測試規(guī)范。

芯片恒溫恒濕測試箱0℃150L的規(guī)格參數(shù)：(除了以下標(biāo)準(zhǔn)尺寸柳沁還可以為大家定制非標(biāo)尺寸）

LQ-TH-80試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm:400*400*500。

LQ-TH-150試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm: 500*500*600。

LQ-TH-225試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm: 600*500*750。

LQ-TH-408試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm: 600*800*850。

LQ-TH-800試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm: 1000*800*1000。

LQ-TH-1000試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm:1000*1000*1000。

2、恒濕濕度范圍：20%～98%R.H。

3、恒溫溫度范圍可選：0℃～150℃、-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃。

4、解析精度：溫度：0.01℃；濕度：0.1%R.H。

5、溫度波動度：±0.5℃。

6、溫度均勻度：±2℃。

7、升溫速率：約3℃/min（從低溫升到高溫、非線性空載）。

8、降溫速率：0.75℃-1℃/min（從高溫降到低溫、非線性空載）。

9、本試驗箱可模擬高溫恒溫、低溫恒溫、高溫恒濕、濕熱交變等不同環(huán)境氣候的測試條件，搭配容易操作和學(xué)習(xí)的高準(zhǔn)確性編程系統(tǒng)，提供 測試性能條件，廣泛適用于電工、電子、電器、LED、汽車配件、手機(jī)、儀器儀表及其它產(chǎn)品零部件在高低溫濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗，確定上述產(chǎn)品對高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫耐濕適應(yīng)性檢測。